| .. |
|
adc_dma_test
|
2917651478
esp_rom: extract common ets apis into esp_rom_sys.h
|
5 ani în urmă |
|
dac_dma_test
|
b35d9002f3
driver(I2S): Fix i2s_comm_format_t configuration parameter does not match the TRM bug.
|
5 ani în urmă |
|
include
|
f6dd63d03d
spi_slave_hd: new driver for spi slave in half duplex mode
|
5 ani în urmă |
|
param_test
|
50aad77f3a
driver: Rename "local" tests to "single board" tests, add some description to the names
|
6 ani în urmă |
|
touch_sensor_test
|
16c73edc67
Merge branch 'refactor/add_alias_name_for_ets_common_api' into 'master'
|
5 ani în urmă |
|
CMakeLists.txt
|
6a0951ecb2
driver/adc: support for esp32s2 adc calibration scheme
|
5 ani în urmă |
|
component.mk
|
8256b5f32b
driver(adc): fix adc io init bug; add unit test to check;
|
5 ani în urmă |
|
test_adc2_with_wifi.c
|
baa7898e35
driver(adc/dac): fix adc dac driver for esp32s2
|
5 ani în urmă |
|
test_adc_common.c
|
d90e0e4345
driver(adc): fix unit test for ADC-DMA (test_esp32s2.c); fix unit test for ADC-DMA (test_esp32s2.c); fix commit in adc dirver.
|
5 ani în urmă |
|
test_common_spi.c
|
11fa11000f
spi: re-enable the unit tests for esp32s2beta
|
6 ani în urmă |
|
test_dac.c
|
6a0951ecb2
driver/adc: support for esp32s2 adc calibration scheme
|
5 ani în urmă |
|
test_gpio.c
|
2917651478
esp_rom: extract common ets apis into esp_rom_sys.h
|
5 ani în urmă |
|
test_i2c.c
|
a4d0033c03
esp_rom: extract common GPIO apis into esp_rom_gpio.h
|
5 ani în urmă |
|
test_i2s.c
|
a4d0033c03
esp_rom: extract common GPIO apis into esp_rom_gpio.h
|
5 ani în urmă |
|
test_ledc.c
|
d16ad4a67a
ci: disable case witout runners
|
6 ani în urmă |
|
test_pcnt.c
|
a4d0033c03
esp_rom: extract common GPIO apis into esp_rom_gpio.h
|
5 ani în urmă |
|
test_pwm.c
|
4220752aed
ut: Move tests back from "esp32" subfolder
|
6 ani în urmă |
|
test_rmt.c
|
a4d0033c03
esp_rom: extract common GPIO apis into esp_rom_gpio.h
|
5 ani în urmă |
|
test_rs485.c
|
983220e216
ci: temporarily disable RS485 related tests
|
5 ani în urmă |
|
test_rtcio.c
|
f9b167103f
bugfix(ut): fix rtcio pullup/pulldown and rtcio hold unit test
|
5 ani în urmă |
|
test_sdio.c
|
f10a721d88
sdio: fix the unit of performance test
|
5 ani în urmă |
|
test_sdmmc_sdspi_init.cpp
|
067f3d21c9
sdspi, vfs_fat: allow sharing SPI bus among devices, and mounting multiple SD cards
|
6 ani în urmă |
|
test_sigmadelta.c
|
de848a5150
test: driver/sigmadelta test case
|
7 ani în urmă |
|
test_spi_bus_lock.c
|
fdf983e0c4
spi: fix config break and reduce overhead of the bus lock on SPI1
|
5 ani în urmă |
|
test_spi_master.c
|
8165025320
spi test: replace several SPIRAM_SUPPORT with SPIRAM configs
|
5 ani în urmă |
|
test_spi_param.c
|
3bb41fd67e
spi: add unit test for slave receiving length
|
5 ani în urmă |
|
test_spi_sio.c
|
2917651478
esp_rom: extract common ets apis into esp_rom_sys.h
|
5 ani în urmă |
|
test_spi_slave.c
|
a4d0033c03
esp_rom: extract common GPIO apis into esp_rom_gpio.h
|
5 ani în urmă |
|
test_spi_slave_hd.c
|
f6dd63d03d
spi_slave_hd: new driver for spi slave in half duplex mode
|
5 ani în urmă |
|
test_timer.c
|
2917651478
esp_rom: extract common ets apis into esp_rom_sys.h
|
5 ani în urmă |
|
test_uart.c
|
289ad82bc0
driver test: Ensure uart write task can't overflow buffer of read task
|
5 ani în urmă |
Michael (XIAO Xufeng)
ceb690886e
Merge branch 'feature/esp32s2_adc_calib_V1' into 'master'