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adc_dma_test
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c0887582a2
adc_test: fix the failure caused by low expected middle value
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há 5 anos atrás |
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dac_dma_test
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9cd5e6f8c9
bugfix(adc): missing ranges of ADC codes in ESP32
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há 5 anos atrás |
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include
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0914dfbb6a
dfiver(dac): add dac dma driver and unit test
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há 5 anos atrás |
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param_test
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50aad77f3a
driver: Rename "local" tests to "single board" tests, add some description to the names
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há 6 anos atrás |
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touch_sensor_test
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9fa06719fa
global: enable build uinit test for esp32-s3
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há 5 anos atrás |
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CMakeLists.txt
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20c068ef3b
cmock: added cmock as component
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há 5 anos atrás |
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component.mk
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8256b5f32b
driver(adc): fix adc io init bug; add unit test to check;
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há 5 anos atrás |
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test_adc2_with_wifi.c
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9fa06719fa
global: enable build uinit test for esp32-s3
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há 5 anos atrás |
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test_adc_common.c
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9fa06719fa
global: enable build uinit test for esp32-s3
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há 5 anos atrás |
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test_common_spi.c
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9fa06719fa
global: enable build uinit test for esp32-s3
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há 5 anos atrás |
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test_dac.c
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9fa06719fa
global: enable build uinit test for esp32-s3
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há 5 anos atrás |
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test_gpio.c
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ba3a6f68b4
driver test: Don't use ESP32-S2 CS1 pin for output test
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há 5 anos atrás |
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test_i2c.c
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9fa06719fa
global: enable build uinit test for esp32-s3
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há 5 anos atrás |
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test_i2s.c
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9fa06719fa
global: enable build uinit test for esp32-s3
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há 5 anos atrás |
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test_ledc.c
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9fa06719fa
global: enable build uinit test for esp32-s3
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há 5 anos atrás |
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test_pcnt.c
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647dea9395
soc: combine xxx_caps.h into one soc_caps.h
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há 5 anos atrás |
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test_pwm.c
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1966f00f0b
soc: updates caps usage
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há 5 anos atrás |
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test_rmt.c
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9fa06719fa
global: enable build uinit test for esp32-s3
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há 5 anos atrás |
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test_rs485.c
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9fa06719fa
global: enable build uinit test for esp32-s3
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há 5 anos atrás |
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test_rtcio.c
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9fa06719fa
global: enable build uinit test for esp32-s3
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há 5 anos atrás |
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test_sdio.c
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1966f00f0b
soc: updates caps usage
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há 5 anos atrás |
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test_sdmmc_sdspi_init.cpp
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067f3d21c9
sdspi, vfs_fat: allow sharing SPI bus among devices, and mounting multiple SD cards
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há 6 anos atrás |
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test_sigmadelta.c
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9fa06719fa
global: enable build uinit test for esp32-s3
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há 5 anos atrás |
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test_spi_bus_lock.c
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9fa06719fa
global: enable build uinit test for esp32-s3
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há 5 anos atrás |
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test_spi_master.c
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3057b76a7e
tests: re-add all disabled tests and all disabled configurations
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há 5 anos atrás |
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test_spi_param.c
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9fa06719fa
global: enable build uinit test for esp32-s3
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há 5 anos atrás |
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test_spi_sio.c
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9fa06719fa
global: enable build uinit test for esp32-s3
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há 5 anos atrás |
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test_spi_slave.c
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9fa06719fa
global: enable build uinit test for esp32-s3
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há 5 anos atrás |
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test_spi_slave_hd.c
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9fa06719fa
global: enable build uinit test for esp32-s3
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há 5 anos atrás |
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test_timer.c
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9fa06719fa
global: enable build uinit test for esp32-s3
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há 5 anos atrás |
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test_uart.c
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8c246fd4f3
driver: add diagnostic information into UART test, enable flow control
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há 5 anos atrás |
Michael (XIAO Xufeng)
c0887582a2
adc_test: fix the failure caused by low expected middle value